ဂျပန်သုတေသီများသည် ကြွေထည်ပလပ်စတစ်ဖြတ်တောက်ခြင်း၏ ကန့်သတ်ချက်များကို စူးစမ်းလေ့လာခဲ့ကြသည်။

ဂျပန်သုတေသီများသည် Al2O3 ကြွေထည်များနှင့် Si3N4 ကြွေထည်များကိုဖြတ်ရန်အတွက် polycrystalline စိန်ကိရိယာများကို အသုံးပြုခဲ့သည်။ အကြမ်းဖျဉ်းရှိသော polycrystalline စိန်ကိရိယာများသည် ဖြတ်တောက်ခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း ဝတ်ဆင်မှုနည်းပါးပြီး စီမံဆောင်ရွက်မှုအကျိုးသက်ရောက်မှုကောင်းမွန်ကြောင်း တွေ့ရှိခဲ့သည်။ ZrO2 ကြွေထည်များကို စိန်ကိရိယာများဖြင့် ဖြတ်တောက်သောအခါ သတ္တုကို ဖြတ်သည့်အခါနှင့် ဆင်တူသည်။ ကြွေထည်ပလပ်စတစ်ဖြတ်တောက်ခြင်း ကန့်သတ်ချက်များကို စူးစမ်းလေ့လာခဲ့ကြသည်။ Al2O3 ကြွေထည်များ၏ အရေးပါသော ဖြတ်တောက်မှုအတိမ်အနက်မှာ apmax=2um၊ SiC ceramics apmax=1um၊ Si3N4 ကြွေထည်များ apmax=4um (ap>apmax၊ ကြွေထည်ပစ္စည်းများသည် ကြွပ်ဆတ်ချို့ယွင်းမှု) ထွက်လာသောအခါ၊ ap